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產(chǎn)品中心美國Harvard76-0118美國Harvard 電容計(jì)（靜態(tài)負(fù)重測試）
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美國Harvard 電容計(jì)（靜態(tài)負(fù)重測試） 簡介：
無能測試（靜態(tài)負(fù)重測試）提供了一種方法，用于評估一個(gè)后爪發(fā)炎或神經(jīng)損傷（神經(jīng)的病變、角叉菜素、切口）的實(shí)驗(yàn)動(dòng)物模型的自發(fā)性疼痛。大多數(shù)實(shí)驗(yàn)研究中使用的傷害感受閾值的經(jīng)典測量允許在沒有實(shí)驗(yàn)性傷害感受刺激的情況下評估疼痛敏感性水平（而不是自發(fā)性疼痛水平）。
在電容測試中，動(dòng)物被放置在一個(gè)專門設(shè)計(jì)的支架中，以保持動(dòng)物舒適地放置在兩個(gè)獨(dú)立的傳感器板上。Panlab Incapacitance Tester 通過在兩個(gè)單獨(dú)的傳感器上獨(dú)立測量動(dòng)物施加在每個(gè)后爪上的重量，可以量化反映自發(fā)性疼痛的自發(fā)姿勢變化。在沒有后爪損傷的情況下，大鼠在兩個(gè)后爪上施加相等的重量，表明姿勢平衡。單側(cè)后爪組織損傷后，可以檢測到傳感器上重量分布的變化，受傷的爪子施加的重量較低。
施加在每個(gè)傳感器單元上的重量的當(dāng)前值以用戶選擇的單位（克、牛頓或盎司/磅）顯示在 LE7950 控制單元的 LCD 顯示屏上。遠(yuǎn)程腳踏開關(guān)控制測試開始/停止，實(shí)現(xiàn)快速的免提實(shí)驗(yàn)。控制單元還允許在測量期間計(jì)算和顯示被測動(dòng)物組的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)（平均值、標(biāo)準(zhǔn)差）。運(yùn)行電容測試不需要 PC，但可以通過集成的 RS232/USB 接口和 SEDACOM 將收集的數(shù)據(jù)從儀器發(fā)送到 PC。
新的 SEDACOM 2.0 版本（可選）提供了一種簡單方便的方法，可以在計(jì)算機(jī)上可視化和導(dǎo)出數(shù)據(jù)以供進(jìn)一步分析。
美國Harvard 電容計(jì)（靜態(tài)負(fù)重測試） 特點(diǎn)：
| 規(guī)格 | 76-0118 |
|---|---|
| 準(zhǔn)確性 | 0.2% F.S. |
| 平均 | 1 到 300 秒 |
| 壓 | 2000 克 |
| 控制單元尺寸 | 17 x 25 x 10 厘米 |
| 通信 | USB接口 |
卡洛斯莫國際貿(mào)易(深圳)有限公司，自2016年榮耀啟航以來，便扎根于深圳龍華區(qū)的經(jīng)濟(jì)熱土之上，以視野和不懈的努力，在智能裝備與精密儀器領(lǐng)域迅速崛起。
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